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奧普特—AOI 外觀髒汙檢測
2026-04-06 23:44:50
應用描述
采用線陣16K相機、背光加拱形光方式，對芯片表麵進行拍攝，然後軟件Blob分析髒汙。視野大小：60 mm 。精度要求: 0.005 mm 。
通過中華工控網在線聯係廣東奧普特科技股份有限公司：
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