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Author(s):
Nick Martin BSc Hons. MIEE. - Serco Systems Engineering Business Group
Robin Lord BEng Hons. - Serco Systems Engineering Business Group
Industry:
Aerospace/Avionics
Products:
NI TestStand
The Challenge:
為軍用航空電子係統老化提供緊湊的基於商業現貨的測試方案。
The Solution:
通過NI TestStand設計並創建老化測試裝置。
"通過修改SPM可應對更複雜的測試序列問題。將這個組件與最新NI TestStand特性結合，我們能夠針對各類測試要求實現獨特、靈活的解決方案。" 老化測試的對象及策略
Serco測ce試shi係xi統tong公gong司si需xu要yao開kai發fa一yi種zhong老lao化hua測ce試shi係xi統tong，它ta能neng夠gou在zai生sheng產chan過guo程cheng中zhong誘you導dao缺que陷xian元yuan件jian在zai時shi間jian及ji壓ya力li方fang麵mian失shi效xiao，以yi防fang止zhi致zhi命ming問wen題ti的de征zheng兆zhao在zai現xian場chang出chu現xian。使shi用yong最zui初chu，係xi統tong由you於yu固gu有you缺que陷xian或huo生sheng產chan相xiang關guan因yin素su導dao致zhi的de失shi效xiao率lv很hen高gao，接jie下xia來lai一yi段duan時shi間jian失shi效xiao率lv較jiao低di，直zhi到dao產chan品pin接jie近jin使shi用yong壽shou命ming時shi失shi效xiao率lv又you會hui回hui升sheng。老lao化hua過guo程cheng就jiu是shi熱re應ying力li及ji功gong能neng性xing電dian子zi測ce試shi的de重zhong複fu循xun環huan應ying用yong。我wo們men將jiang被bei測ce單dan元yuan放fang入ru熱re處chu理li室shi，然ran後hou連lian接jie這zhe些xie單dan元yuan以yi測ce試shi設she備bei。循xun環huan測ce試shi從cong加jia熱re循xun環huan開kai始shi，在zai熱re處chu理li室shi降jiang溫wen並bing給gei被bei測ce單dan元yuan斷duan電dian後hou暫zan停ting。
圖1. Serco 公司的老化測試裝置
NI TestStand 應對挑戰
航hang空kong電dian子zi要yao求qiu通tong過guo老lao化hua測ce試shi檢jian測ce僅jin在zai極ji限xian溫wen度du下xia出chu現xian的de問wen題ti。老lao化hua測ce試shi循xun環huan時shi間jian較jiao長chang，並bing需xu要yao重zhong複fu測ce試shi，由you此ci可ke以yi發fa現xian問wen題ti並bing反fan饋kui給gei測ce試shi方fang案an提ti供gong者zhe。Serco 測試係統公司可以采用NI TestStand 來應對挑戰：
● 保證被測單元在老化測試過程中不會處於過應力狀態，在整個溫度範圍內進行足夠的測試
● 提供多個單元並行測試，從而充分利用熱處理室工作時間，最大化產品吞吐量
● 能夠在測試進行中取下單個測試單元，同時不影響正在進行的測試
NI TestStand 順序過程模型
我們將NI TestStand 默認的順序模型分為兩個模塊――自動化測試程序（ATP），包含用戶自定義的離散測試步驟；順序過程模型（SPM）封裝。封裝處理每個產品測試的標準操作，包括測試開始/停止、結果記錄、及測試報告生成。我們可以有效地在封裝與用戶定義的ATP之間傳遞控製。
SPMbeishejichengmeiciceshiyigebeicedanyuan，suihoujinruxiayijieduan。hangkongdianzilaohuayaoqiuduitongyibeicedanyuanjinxingduogeceshixunhuan，bingqieduogebeicedanyuannenggouzaitongyichulishizhongjinxingceshi。yinci，zuijiafanganshigaijinSPM，以創建老化過程模型（BPM）。
航空電子老化測試
為充分利用，處理室必須能夠容納不同被測單元類型。通過允許用戶決定在運行階段的ATP 序列，使得我們開發的BPM能夠滿足多種被測單元類型。
被測單元預設置
在測試循環的第一階段，我們通過設置變量來控製ATP流。測試類型及循環狀態指示器分別設置為“pretemperature”和“cold”。由you被bei測ce單dan元yuan數shu據ju入ru口kou麵mian板ban提ti供gong顯xian示shi，其qi外wai觀guan取qu決jue於yu被bei測ce單dan元yuan類lei型xing。通tong過guo該gai麵mian板ban，操cao作zuo人ren員yuan能neng夠gou得de到dao每mei個ge被bei測ce單dan元yuan的de細xi節jie，從cong而er提ti高gao在zai同tong一yi個ge處chu理li室shi中zhong有you多duo個ge或huo不bu同tong類lei型xing的de幾ji個ge被bei測ce單dan元yuan時shi的de吞tun吐tu量liang。狀zhuang態tai麵mian板ban在zai每mei個ge被bei測ce單dan元yuan初chu始shi化hua後hou加jia載zai，它ta能neng顯xian示shi被bei測ce單dan元yuan位wei置zhi及ji執zhi行xing的deATP 類型。
有標號的方塊代表每個被測單元，它們根據執行程序中當前狀態進行顏色編碼。操作人員可以選擇“修正細節”按鈕來修改之前輸入的信息。這就便於在測試階段加載或卸載被測單元，以充分利用處理室資源。
老化ATP 主要順序
設備的初始化及操作人員的連接指令都因新加載被測單元的類型不同而不同。
溫度測試之前的測試
每(mei)個(ge)被(bei)測(ce)單(dan)元(yuan)的(de)測(ce)試(shi)都(dou)要(yao)確(que)保(bao)所(suo)有(you)測(ce)試(shi)項(xiang)目(mu)都(dou)優(you)先(xian)於(yu)熱(re)循(xun)環(huan)測(ce)試(shi)。在(zai)測(ce)試(shi)失(shi)效(xiao)時(shi)，係(xi)統(tong)會(hui)提(ti)供(gong)替(ti)換(huan)選(xuan)項(xiang)。測(ce)試(shi)係(xi)統(tong)為(wei)每(mei)個(ge)成(cheng)功(gong)完(wan)成(cheng)測(ce)試(shi)的(de)被(bei)測(ce)單(dan)元(yuan)生(sheng)成(cheng)報(bao)告(gao)。
熱循環溫度測試
當處理室進入熱循環狀態後，序列將“測試類型”改為“溫度”測試，並調用ATP 主序列。該階段對每個被測元件執行完整測試，並編譯獨立報告、顯示狀態麵板、監測處理室。
冷循環－測試中斷
當處理室狀態進入冷循環後，所有單元都斷電，序列回到被測單元預設置階段，並更新狀態麵板，監測處理室。
測試終止
為了避免由於單個被測單元失效而造成整個測試循環終止，BPM包含了兩個不同的終止程序。在溫度測試之前的測試階段及熱循環測試階段，操作人員可以選擇“終止當前被測單元”。序列退出ATP，返回“操作終止”子程序，這樣就能將所選被測單元斷電。BPM 隨後修改控製變量停止該被測單元位置的進一步測試，並在報告中插入結果。操作人員還能選擇“終止所有”選項。該選項將立刻將所有被測單元斷電，完成報告並終止測試。
完成測試
循環測試持續進行直到測試類型被設置為“完成”狀態。測試將在以下情況下終止：
● 完成所有處理室循環測試
● 測試過程中停止供電，迫使序列終止
● 序列被終止
BPM有超過16 個測試項目及4 種被測單元變量，它被成功應用到多種航空電子老化測試中。
圖2. 操作界麵狀態板處理多達16 個不同被測元件類型
開發靈活的解決方案
通過修改SPM 可應對更複雜的測試序列問題。將這個組件與最新NI TestStand特性結合，我們能夠針對各類測試要求實現獨特、靈活的解決方案。
如果您有任何問題,請留言給NI工程師，我們會盡快給您回電！
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