OC Sharp屬於短距離激光測距（也叫位移傳感器）產品，其測量基於“光譜分析”原理
，是和原OD係列采用的“三角測量法”原理完全不同的最新技術。SICK提供“光譜共焦”和“光譜幹涉”2種測量原理的測量頭，精度可以達到納米（10-9米）級（即分子水平），是目前全球最高精度的非接觸式測量傳感器之一。全新“光譜分析”技(ji)術(shu)保(bao)證(zheng)可(ke)以(yi)適(shi)應(ying)任(ren)何(he)顏(yan)色(se)的(de)被(bei)測(ce)物(wu)

，其(qi)測(ce)量(liang)頭(tou)是(shi)純(chun)機(ji)械(xie)結(jie)構(gou)的(de)光(guang)學(xue)部(bu)件(jian)
，不(bu)含(han)電(dian)子(zi)元(yuan)器(qi)件(jian)，杜(du)絕(jue)電(dian)磁(ci)幹(gan)擾(rao)和(he)高(gao)溫(wen)影(ying)響(xiang)。同(tong)時(shi)
，它(ta)使(shi)用(yong)的(de)是(shi)白(bai)色(se)直(zhi)射(she)可(ke)見(jian)光(guang)，完(wan)美(mei)適(shi)應(ying)弧(hu)麵(mian)和(he)深(shen)孔(kong)等(deng)測(ce)量(liang)應(ying)用(yong)。

基於以上優異的產品特性，OC Sharp十(shi)分(fen)適(shi)用(yong)於(yu)電(dian)子(zi)和(he)太(tai)陽(yang)能(neng)行(xing)業(ye)中(zhong)半(ban)導(dao)體(ti)矽(gui)片(pian)表(biao)麵(mian)晶(jing)相(xiang)測(ce)量(liang)，製(zhi)藥(yao)行(xing)業(ye)中(zhong)試(shi)管(guan)內(nei)藥(yao)物(wu)液(ye)位(wei)高(gao)精(jing)度(du)測(ce)量(liang)，玻(bo)璃(li)行(xing)業(ye)中(zhong)玻(bo)璃(li)高(gao)精(jing)度(du)測(ce)厚(hou)，以(yi)及(ji)包(bao)裝(zhuang)等(deng)行(xing)業(ye)中(zhong)薄(bo)膜(mo)測(ce)厚(hou)。

特性規格
   
    ▪  產品量程從600微米到12毫米

▪  光譜共焦法原理傳感器帶來高精度和高可靠性

▪  極高的測量頻率
，達4,000 Hz

▪  廣泛適用於各種材料和顏色被測物的高精度穩定測量

▪  一個測量頭即可以精確測量極薄透明薄膜的厚度

▪  最小4微米的極小光點，可以測量非常小的被測物

▪  最高5.5納米的分辨率

▪  一台控製器同時連接一個測量頭工作

▪  測距，透明測厚和幹涉法測厚三種測量工作模式

▪  免費操作軟件
，使用方便

應用領域：

▪  高精度識別測量：比如汽車行業發動機和變速箱等核心部件的尺寸測量，機床行業的高精度加工件測量

▪  薄膜厚度測量：比如吹膜機膜厚監控，流延膜厚監控

▪  精密製造及組裝行業：比如軸承鋼珠外形監控，細孔深度測量

▪  電子及太陽能：半導體矽片表麵物相監控

▪  電子及太陽能：電路板質量監控，高精度IC針腳監控
，比如硬盤製造
，消費電子產品組裝質量監控

▪  透明玻璃厚度檢測：比如顯示屏玻璃平麵度及厚度測量
，鏡頭或鏡片鍍膜厚度檢測

客戶受益：

▪  得益於傳感器納米級的高精度和4K的測量頻率，可以高速高精度的檢測各種物體

▪  極高的精度和極大的允許傾斜角度
，讓現場使用非常靈活，節省成本

▪  單頭測量透明物體厚度
，為高精度透明物體測量提供高性價比方案

▪  得益於其極小的光斑
，該傳感器可以用來測量極小的被測物，比如IC針腳
，或者極小的孔深
，而這些原來的接觸式或者三角測量法傳感器都無法實現，為客戶的測量提供新的可能方案。

▪  非接觸性式，無需特殊安裝設備及免示教的測量技術，為客戶節省安裝調試及後期維護時間，節省成本。

▪  隨機附帶的操作軟件，為客戶節省時間和成本