muqian
，dianlidianzixingyezhongduidianlubanzhuanglianhoudejiancepubiancaiyongdefangshishihanjiehoumuceheduidianlubanjinxinggongnengceshi，zhezaiyidingchengdushangsuiranyenengbaozhengchanpinzaichuchangshidezhiliang
，dandadajiangdileshengchanheweixiudexiaolv
，tongshihaihuishichanpinmaixiayidingdeanquanyinhuan。其原因有二： 一是目測靠人來掌握，不同的人或同一個人在不同的時間和不同的狀態下對標準的把握並不完全一致，有時疲勞也會產生疏漏；ershigongnengceshishitongguogeidianlubanjiadianjinxingzhengtidongtaiceshi，yidianlubannengfoushixianqisuoyaoqiudegongnenglaipanbiechanpinshifouhege
，danqiwufadadaoduidianlubanshangmeigeqijianxingnengjihanjiezhiliangdeceshi
，wufajishifaxianyixieqianzaiwentidecunzai。
   隨(sui)著(zhe)公(gong)司(si)高(gao)壓(ya)變(bian)頻(pin)器(qi)銷(xiao)量(liang)迅(xun)速(su)增(zeng)加(jia)，產(chan)量(liang)不(bu)斷(duan)擴(kuo)大(da)，就(jiu)對(dui)生(sheng)產(chan)效(xiao)率(lv)提(ti)出(chu)了(le)更(geng)高(gao)的(de)要(yao)求(qiu)。這(zhe)樣(yang)，目(mu)測(ce)和(he)功(gong)能(neng)測(ce)試(shi)已(yi)無(wu)法(fa)滿(man)足(zu)生(sheng)產(chan)要(yao)求(qiu)。為(wei)了(le)既(ji)保(bao)證(zheng)縮(suo)短(duan)生(sheng)產(chan)周(zhou)期(qi)，提(ti)高(gao)生(sheng)產(chan)效(xiao)率(lv)，又(you)保(bao)證(zheng)產(chan)品(pin)的(de)質(zhi)量(liang)，提(ti)高(gao)產(chan)品(pin)運(yun)行(xing)的(de)穩(wen)定(ding)性(xing)，公(gong)司(si)在(zai)今(jin)年(nian)3月份，又添置了ICT設備，即電路板在線測試儀。
   ICT(In-Circuit Tester)設(she)備(bei)能(neng)隨(sui)著(zhe)流(liu)水(shui)線(xian)生(sheng)產(chan)的(de)節(jie)拍(pai)
，在(zai)很(hen)短(duan)的(de)時(shi)間(jian)裏(li)對(dui)電(dian)路(lu)板(ban)上(shang)的(de)每(mei)個(ge)元(yuan)器(qi)件(jian)進(jin)行(xing)靜(jing)態(tai)測(ce)量(liang)。該(gai)設(she)備(bei)可(ke)以(yi)檢(jian)測(ce)出(chu)電(dian)路(lu)板(ban)在(zai)裝(zhuang)聯(lian)過(guo)程(cheng)中(zhong)出(chu)現(xian)的(de)短(duan)路(lu)、斷路、缺件、錯件、焊接等裝聯不良以及元器件參數不良等問題，並能夠將產生不良問題的具體位置
、元器件的標準值和測試值等信息打印出來，作為維修依據，極大地提高了測試和維修的效率。
   ICT測試相當於給電路板做了一個全麵體檢，通過計算機來把握標準，能及時發現並解決問題
，消除潛在隱患。ICT測ce試shi與yu功gong能neng測ce試shi相xiang結jie合he，能neng夠gou最zui大da限xian度du地di保bao證zheng每mei一yi個ge元yuan器qi件jian的de性xing能neng都dou在zai設she計ji範fan圍wei之zhi內nei而er不bu超chao標biao

，這zhe就jiu使shi產chan品pin長chang期qi運yun行xing的de穩wen定ding性xing有you了le保bao障zhang。
   除了上述檢測優點，通過使用ICT測試
，還可以使產品成本下降。我們知道，處理不良所花的費用在元器件、板級、單元、整機和出廠後是呈指數級數上升的，而引進ICT測試後，我們能夠在板級階段最大限度地消除不良
，避免在以後階段出現故障
，從而極大地降低維修成本。此外，ICT測(ce)試(shi)為(wei)低(di)壓(ya)靜(jing)態(tai)測(ce)試(shi)，相(xiang)比(bi)較(jiao)功(gong)能(neng)測(ce)試(shi)它(ta)是(shi)更(geng)安(an)全(quan)的(de)，不(bu)但(dan)消(xiao)除(chu)了(le)功(gong)能(neng)測(ce)試(shi)時(shi)將(jiang)有(you)故(gu)障(zhang)的(de)電(dian)路(lu)板(ban)直(zhi)接(jie)加(jia)工(gong)作(zuo)電(dian)壓(ya)可(ke)能(neng)產(chan)生(sheng)的(de)連(lian)鎖(suo)故(gu)障(zhang)而(er)使(shi)非(fei)故(gu)障(zhang)器(qi)件(jian)受(shou)損(sun)的(de)可(ke)能(neng)，也(ye)避(bi)免(mian)了(le)原(yuan)材(cai)料(liao)的(de)浪(lang)費(fei)
，同(tong)時(shi)
，ICT測試能夠直接測出不良的器件及位置，有效地降低了維修難度
，進而達到了降低維修成本的目的。
   總之，ICT設(she)備(bei)的(de)添(tian)置(zhi)
，無(wu)論(lun)從(cong)提(ti)高(gao)生(sheng)產(chan)效(xiao)率(lv)，適(shi)應(ying)用(yong)戶(hu)多(duo)方(fang)麵(mian)的(de)需(xu)求(qiu)方(fang)麵(mian)，還(hai)是(shi)提(ti)升(sheng)產(chan)品(pin)質(zhi)量(liang)，保(bao)證(zheng)產(chan)品(pin)運(yun)行(xing)的(de)穩(wen)定(ding)性(xing)
，乃(nai)至(zhi)降(jiang)低(di)成(cheng)本(ben)，給(gei)公(gong)司(si)和(he)用(yong)戶(hu)以(yi)更(geng)大(da)的(de)回(hui)報(bao)等(deng)方(fang)麵(mian)，都(dou)具(ju)有(you)非(fei)常(chang)重(zhong)要(yao)的(de)意(yi)義(yi)。