中國上海, 2008年4月2日, 來自英特爾開發人員論壇的消息 – 全球領先的測試
、測量和監測儀器提供商--泰克公司日前宣布，將會參加4月2日到3日在上海舉辦的2008年春季英特爾開發人員論壇，並演示其最新的DDR2
、DDR3和PCI Express測試解決方案。泰克還將與本地設計和測試工程師分享其專業技術知識和觀點，在上海IDF的服務器實驗室分會場中現場演示PCI- Express測試。 
　　多(duo)年(nian)以(yi)來(lai)，泰(tai)克(ke)一(yi)直(zhi)與(yu)英(ying)特(te)爾(er)密(mi)切(qie)合(he)作(zuo)
，研(yan)製(zhi)完(wan)整(zheng)的(de)成(cheng)套(tao)解(jie)決(jue)方(fang)案(an)，支(zhi)持(chi)設(she)計(ji)下(xia)一(yi)代(dai)高(gao)速(su)計(ji)算(suan)技(ji)術(shu)。這(zhe)些(xie)解(jie)決(jue)方(fang)案(an)縮(suo)短(duan)了(le)設(she)計(ji)驗(yan)證(zheng)和(he)一(yi)致(zhi)性(xing)測(ce)試(shi)周(zhou)期(qi)，明(ming)顯(xian)加(jia)快(kuai)了(le)技(ji)術(shu)創(chuang)新(xin)進(jin)程(cheng)
，使(shi)廣(guang)大(da)客(ke)戶(hu)能(neng)夠(gou)加(jia)快(kuai)產(chan)品(pin)開(kai)發(fa)周(zhou)期(qi)。由(you)於(yu)在(zai)提(ti)供(gong)對(dui)英(ying)特(te)爾(er)成(cheng)功(gong)至(zhi)關(guan)重(zhong)要(yao)的(de)產(chan)品(pin)和(he)服(fu)務(wu)中(zhong)取(qu)得(de)了(le)傑(jie)出(chu)的(de)成(cheng)績(ji)，泰(tai)克(ke)最(zui)近(jin)榮(rong)獲(huo)英(ying)特(te)爾(er)公(gong)司(si)頒(ban)發(fa)的(de)2007年首選優質供應商(PQS)獎，是唯一獲此殊榮的測試測量廠商。 
　　泰克在IDF 2008上演示的完整的DDR測試解決方案支持DDR
、DDR2和DDR3的全部速度，同時覆蓋模擬域和數字域，並基於業內領先的硬件和軟件。其中TLA7000邏輯分析儀和新的TLA7BB4采集模塊為數字驗證和調試提供了唯一的邏輯分析解決方案
，可以滿足DDR、DDR2和DDR3的全部速度，包括DDR3-1600。與現有的方法相比，這套新的DDR測試方案可以節約高達30%的成本。 
　　對模擬驗證和調試
，泰克新推出的DSA70000家族數字串行分析儀上的DDR分析選項(選項DDRA)與配套的P7500 TriMode™有源差分探頭和DPOJET測量軟件相結合，提供了一套強大的調試工具，可以自動識別讀寫
，執行時鍾、抖動、幅度
、定時和眼圖測量。 
　　在2008年上海IDF上，泰克還將演示其PCIe測試解決方案，其中包括業內唯一為PCIe 3.0提供的實時示波器電氣驗證和調試解決方案，以及世界上最優秀的PCIe 2.0邏輯分析調試和驗證解決方案。泰克PCIe測試解決方案提供了完善的測試工具，保證正確操作和互通
，這對PCIe標準的持續成功是一個重要因素