4月22日，北京——淩華科技主辦的“ADLINK DAY——2008年測量與自動化技術國際高峰研討會”圓滿結束。安捷倫科技、東芝泰力株式會社、日本CCS株式會社、艾法斯亞洲有限公司和北京領邦儀器技術有限責任公司等眾多國際知名廠商在會上都做了精彩的演講和展示。

　　會議主會場首先由淩華董事長劉鈞先生致辭
，他指出高速

、分布式
、模塊化是國內外量測與自動化技術的發展趨勢。淩華副總高明和先生作了“新一代量測自動化計算機與接口的發展新趨勢”的報告，東芝泰力株式會社副總河上和之作了“數字工業相機的趨勢與技術介紹”的報告。安捷倫科技展示了USB模塊化儀器簡化的測試係統。

　　淩華科技董事長劉鈞表示：“淩華舉辦ADLINK DAY的de目mu的de，不bu僅jin是shi淩ling華hua的de品pin牌pai活huo動dong，更geng通tong過guo彙hui集ji國guo際ji知zhi名ming廠chang商shang，為wei量liang測ce與yu自zi動dong化hua產chan業ye的de發fa展zhan提ti供gong趨qu勢shi導dao向xiang和he技ji術shu分fen享xiang。通tong過guo先xian進jin的de量liang測ce與yu自zi動dong化hua技ji術shu的de應ying用yong介jie紹shao，順shun應ying中zhong國guo產chan業ye結jie構gou調tiao整zheng和he產chan業ye升sheng級ji的de大da趨qu勢shi，為wei國guo內nei量liang測ce和he自zi動dong化hua領ling域yu的de用yong戶hu提ti供gong先xian進jin的de應ying用yong解jie決jue方fang案an。”

　　下午時段的3個分會場分別就軍工測試係統、電子製造設備中的AOI檢測
、手機信號相關測試應用3個專題進行了探討。除了精彩的演講，來自眾廠商的最新產品和解決方案也在同一時間集體亮相，展品包括PXI量測平台、數據采集卡和圖像采集卡、工業相機以及Compact PCI平台等等。