無損檢測GE傳感與檢測科技不久前在上海召開的世界無損檢測大會(WCNDT)上展出了其在無損檢測(NDT)領域的最新解決方案。作為此次大會的主讚助商，該公司推出了一係列尤其引人注目的產品，其中包括：第一台真正意義上的手持式工業視頻內窺鏡XL Go、CRx Flex計算機射線成像掃描儀(專為NDT領域開發)、Phasec 3係列便攜式渦流探傷儀以及全新的Phasor係列便攜式相控陣探傷儀。

　　所謂NDT，即Non-destructive testing，是指對材料或工件實施一種不損害或不影響其未來使用性能或用途的檢測手段。廣泛的應用於石油天然氣、航空航天
、電力、汽車以及通用工程領域。在半導體領域，NDT一詞也並不陌生。無論在SOI、半導體拋光晶片缺陷檢測、高速信號處理檢測
、集成電路焊接的檢測方麵
，都可以看到NDT技術活躍的身影。而在對品質要求極為嚴格的汽車半導體領域
，NDT也在受到越來越多汽車半導體廠商的重視。

　　“同其他行業一樣
，NDT同樣廣泛的使用在半導體和電子製造業。”在大會第二天舉行的記者會上，GE傳感與檢測科技業務總監Jeff Anderson表示

，“比如我們的Phoenix X掃描係統，無論在半導體製造
、元器件的檢測還有印刷板的檢測上都有著相當廣泛的應用。”

　　盡管早在一年前GE就已經收購了德國Phoenix X射線公司，但是此次大會才是兩者技術結合後的首次聯袂亮相。Phoenix X係列的新產品，計算機斷層和2D微焦點及納米焦點X射線掃描係統成為GE展台上較為引人注目的產品之一。

　　Phoenix X計算機斷層掃描係統的應用範圍相當廣泛。從緊湊型實驗室係統(如Nanotom)到花崗岩工作台上的CT，不一而足。此外，它在汽車行業也有廣泛應用。“每一項設計工作都是為了精確運行而進行的。此外
，我們還配備了GE內部開發的數據采集和斷層掃描軟件，以便更加輕鬆地對係統進行控製，從而迅速精確的重構被測物體的數據。”