美國理想推出業界首款光纖與銅纜性能測試儀

http://www.kadhoai.com.cn 2026-04-07 12:32:57 來源：美國理想工業有限公司

美國理想工業公司（IDEAL）日前宣布推出一款名為SIGNALTEK^TM-FO的(de)新(xin)型(xing)光(guang)纖(xian)與(yu)銅(tong)纜(lan)性(xing)能(neng)測(ce)試(shi)儀(yi)。該(gai)儀(yi)器(qi)是(shi)目(mu)前(qian)世(shi)界(jie)上(shang)首(shou)款(kuan)同(tong)時(shi)具(ju)備(bei)光(guang)纖(xian)和(he)銅(tong)纜(lan)性(xing)能(neng)測(ce)試(shi)功(gong)能(neng)的(de)儀(yi)表(biao)，其(qi)價(jia)格(ge)比(bi)隻(zhi)具(ju)有(you)單(dan)一(yi)光(guang)纖(xian)測(ce)試(shi)功(gong)能(neng)的(de)儀(yi)表(biao)更(geng)低(di)。

美國理想工業公司於2006年推出了SIGNALTEK線纜性能測試儀，該測試儀通過向線路發送以太網數據包，同時依據IEEE 802.3ab千兆以太網標準，對鏈路性能予以測試，從而測試鏈路對各種應用支持能力。通過監測發送和接收的數據包，報告鏈路誤碼率，實現BERT（Bit Error Rate Test）測試。新推出的SIGNALTEK-FO增加了可插拔SFP光模塊，支持使用850nm和13x0nm波長的所有局域網光鏈路測試應用。傳統的激光光源/光功率計隻能測量光鏈路衰減。由於千兆以太網正在成為主幹光纜傳輸標準，隻測量衰減有可能不足以保證零誤碼性能的要求。SIGNALTEK-FO可對光鏈路進行比特錯誤率測試，並測量光功率衰減值。

采用新一代千兆以太網技術、光纖和銅纜千兆性能測試合二為一是SIGNALTEK-FO的最大特點。小型可插拔SFP光模塊，體積小巧，可在現場進行更換；利用內存或U盤可存儲數千條測試報告並可直接連接打印機打印報告。儀表的接口和連接器包括：A型USB接口用於連接U盤，存儲測試報告，以及連接打印機直接打印測試報告；B型USB接口用於連接計算機，直接查看或上傳測試報告。儀表自帶的屏蔽型RJ-45接口支持10/100/1000Mbps以太網連接；SFP型激光模塊支持850nm及1300nm波長、1000Mbps以太網。其SFP-850nm激光模塊兼容光纖類型包括50/125μm、62.5/125μm多模光纖。SFP-13x0nm激光模塊兼容光纖類型為50/125μm、62.5/125μm多模光纖，以及9/125μm單模光纖。激光模塊均符合EN60825-1規範。

誤碼率測試範圍包括按照IEEE802.3ab標準測試銅纜10/100/1000Mbps誤碼率，以及按照IEEE802.3ab標準測試光纖1000Mbps的誤碼率。

SIGNALTEK^TM-FO采用標準堿性電池或交流電源直接供電，標準附件包括主機和遠端機便攜包、銅纜測試附件包、光纖測試附件包、交流電源適配器、USB通信線和用戶手冊光盤等。

美國理想推出業界首款光纖與銅纜性能測試儀

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