編者語：NIyizhizhiliyuweigongchengshihekexuejiamentigongyigetongyongderuanyingjianpingtai。bansuizheceshixuqiudeduoyanghuahefuzahua，zhezhongyiruanjianweihexindeceshicelvezhengzhujianchengweixingyezhuliudejishu，bingdedaoguangfandeyingyong。

   30多年來
，美國國家儀器（National Instruments）yizhizhiliyuweigongchengshihekexuejiamentigongyigetongyongderuanyingjianpingtai
，yongyukejiyingyonghegongchengchuangxin。bansuizheceshixuqiudeduoyanghuahefuzahua
，zhezhongyiruanjianweihexindeceshicelvezhengzhujianchengweixingyezhuliudejishu，bingdedaoguangfandeyingyong，zaitigaoxiaolvdetongshijiangdiceshichengben。zaixinxingshangyejishubuduanyongxiandejintianheweilai，ceshiceliangxingyezhengchengxianchuwugezhongyaodefazhanfangxiang。

趨勢一：軟件定義的儀器係統成為主流 

   如今的電子產品（像iPhone和Wii等）已yi越yue來lai越yue依yi重zhong於yu軟ruan件jian去qu定ding義yi產chan品pin的de功gong能neng。同tong樣yang的de，在zai產chan品pin設she計ji和he客ke戶hu需xu求qiu日ri益yi複fu雜za的de今jin天tian，用yong於yu測ce試shi測ce量liang的de儀yi器qi係xi統tong也ye朝chao著zhe以yi軟ruan件jian為wei核he心xin的de模mo塊kuai化hua方fang向xiang發fa展zhan，使shi得de用yong戶hu能neng夠gou更geng快kuai更geng靈ling活huo的de將jiang測ce試shi集ji成cheng到dao設she計ji過guo程cheng中zhong去qu
，進jin一yi步bu減jian少shao了le開kai發fa時shi間jian。

趨勢二：多核/並行測試帶來機遇和挑戰

   多核時代的來臨已成為不可避免的發展趨勢，雙核乃至八核的商用PC現在已隨處可見。得益於PC架構的軟件定義的儀器，用戶可以在第一時間享受到多核處理器為自動化測試應用帶來的巨大性能提升。

趨勢三：基於FPGA的自定義儀器將更為流行

   隨著設計和測試的要求越來越高
，FPGA（現場可編程門陣列）技術正逐漸被引入到最新的模塊化儀器中
，這也就是我們所說的基於FPGA的自定義儀器。

趨勢四：無線標準測試的爆炸性增長

   近年來無線通信標準的發展可謂是日新月異，從2000年(nian)前(qian)隻(zhi)有(you)四(si)五(wu)種(zhong)的(de)無(wu)線(xian)標(biao)準(zhun)到(dao)現(xian)在(zai)眾(zhong)多(duo)新(xin)標(biao)準(zhun)如(ru)雨(yu)後(hou)春(chun)筍(sun)般(ban)湧(yong)現(xian)。越(yue)來(lai)越(yue)多(duo)的(de)消(xiao)費(fei)電(dian)子(zi)產(chan)品(pin)和(he)工(gong)業(ye)產(chan)品(pin)都(dou)或(huo)多(duo)或(huo)少(shao)的(de)集(ji)成(cheng)了(le)無(wu)線(xian)通(tong)信(xin)的(de)功(gong)能(neng)，像(xiang)蘋(ping)果(guo)公(gong)司(si)最(zui)新(xin)的(de)3G版iPhone手機，更是同時集成了UMTS, HSDPA, GSM, EDGE, Wi-Fi, GPS和(he)藍(lan)牙(ya)等(deng)多(duo)種(zhong)最(zui)新(xin)的(de)無(wu)線(xian)標(biao)準(zhun)。這(zhe)些(xie)都(dou)給(gei)無(wu)線(xian)技(ji)術(shu)的(de)開(kai)發(fa)和(he)測(ce)試(shi)帶(dai)來(lai)了(le)巨(ju)大(da)的(de)挑(tiao)戰(zhan)，測(ce)試(shi)技(ji)術(shu)如(ru)何(he)跟(gen)上(shang)無(wu)線(xian)技(ji)術(shu)的(de)發(fa)展(zhan)成(cheng)為(wei)工(gong)程(cheng)師(shi)麵(mian)臨(lin)的(de)最(zui)大(da)難(nan)題(ti)。通(tong)常(chang)傳(chuan)統(tong)射(she)頻(pin)儀(yi)器(qi)的(de)購(gou)買(mai)周(zhou)期(qi)是(shi)5至7年，而新標準和新技術的推出周期卻是每兩年一輪
，購買的射頻測試設備由於其固件和功能的限定通常難以跟上新標準的發展速度。

趨勢五：協議感知（Protocol-Aware）ATE將影響半導體的測試

   如今的半導體器件變得愈加的複雜，高級的片上係統（SoC）和封裝係統（SiP）xiangbidianxingdejiyushiliangdeqijianceshieryan
，xuyaogengweifuzadexitongjidegongnengceshi。xianzaiqijiandegongnengyebuzaishitongguojiandandebingxingshuzijiekoushixian
，ershigengduodeyilaiyugaosuchuanxingzongxianhewuxianxieyijinxingshuchu
，zhejiuyaoqiuceshishebeiheqijianzhijiannenggouzaizhidingdeshizhongzhouqineiwanchenggaosudejilihexiangyingceshi。