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外形尺寸測量多麵手——邦納測量光幕

http://www.kadhoai.com.cn 2026-04-07 20:03:15 來源:美國邦納工程國際有限公司

原創: Aiwen Wang

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同tong樣yang,我wo們men工gong控kong人ren也ye希xi望wang有you稱cheng心xin如ru意yi的de幫bang手shou,少shao則ze節jie省sheng一yi大da段duan程cheng序xu,多duo則ze解jie決jue技ji術shu難nan點dian贏ying得de大da單dan,下xia麵mian就jiu由you小xiao編bian向xiang大da家jia介jie紹shao一yi位wei在zai外wai形xing尺chi寸cun測ce量liang應ying用yong上shang兵bing來lai將jiang擋dang、水來土掩的多麵手----邦納測量光幕。

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測(ce)量(liang)光(guang)幕(mu)由(you)發(fa)射(she)器(qi)和(he)接(jie)收(shou)器(qi)組(zu)成(cheng),發(fa)射(she)器(qi)發(fa)出(chu)的(de)光(guang)直(zhi)射(she)到(dao)接(jie)收(shou)器(qi),出(chu)現(xian)在(zai)發(fa)射(she)器(qi)和(he)接(jie)收(shou)器(qi)之(zhi)間(jian)的(de)物(wu)體(ti)將(jiang)會(hui)阻(zu)擋(dang)一(yi)部(bu)分(fen)光(guang)線(xian),使(shi)其(qi)不(bu)能(neng)照(zhao)射(she)到(dao)相(xiang)應(ying)的(de)接(jie)收(shou)器(qi)。測(ce)量(liang)光(guang)幕(mu)使(shi)用(yong)掃(sao)描(miao)的(de)方(fang)式(shi)來(lai)識(shi)別(bie)被(bei)擋(dang)的(de)通(tong)道(dao),首(shou)先(xian)一(yi)個(ge)發(fa)射(she)器(qi)通(tong)道(dao)發(fa)出(chu)光(guang)脈(mai)衝(chong),而(er)對(dui)應(ying)的(de)接(jie)收(shou)器(qi)同(tong)時(shi)來(lai)接(jie)收(shou)該(gai)脈(mai)衝(chong),然(ran)後(hou)轉(zhuan)向(xiang)下(xia)一(yi)個(ge)通(tong)道(dao),直(zhi)到(dao)所(suo)有(you)的(de)通(tong)道(dao)都(dou)掃(sao)描(miao)完(wan)成(cheng)。當(dang)一(yi)個(ge)周(zhou)期(qi)掃(sao)描(miao)完(wan)成(cheng)後(hou),係(xi)統(tong)記(ji)錄(lu)哪(na)些(xie)通(tong)道(dao)通(tong)光(guang),哪(na)些(xie)通(tong)道(dao)被(bei)遮(zhe)擋(dang),最(zui)後(hou)根(gen)據(ju)檢(jian)測(ce)模(mo)式(shi)輸(shu)出(chu)掃(sao)描(miao)結(jie)果(guo),可(ke)以(yi)是(shi)模(mo)擬(ni)量(liang)信(xin)號(hao),也(ye)可(ke)以(yi)是(shi)MODBUS通信。

邦bang納na測ce量liang光guang幕mu之zhi所suo以yi能neng夠gou成cheng為wei一yi個ge多duo麵mian手shou,得de益yi於yu邦bang納na的de設she計ji人ren員yuan賦fu予yu了le它ta如ru下xia八ba種zhong的de掃sao描miao分fen析xi模mo式shi,使shi其qi能neng夠gou從cong容rong應ying對dui不bu同tong的de應ying用yong場chang景jing。

掃描模式:

TBB —— 全部被遮斷的光束數;

CBB —— 連續被遮斷的光束數;

TBM —— 全部導通的光束數量;

CBM —— 連續導通的光束數量;

FBB —— 第一條被遮斷的光束;

LBB —— 最後一條被遮斷的光束;

FBM —— 第一條導通的光束;

LBM —— 最後一條導通的光束;

ID —— 光幕起始位置到最後導通位置中的光束導通數量;

OD —— 光幕開始遮擋位置到最後遮擋位置的距離。

掃描分析模式及應用場景示例:

物體尺寸/體積測量

使用模式:TBB全部被遮斷的光束數。

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鏤空物體的外徑測量,如輪胎

使用模式:CBM(連續導通的光束數量)測量內徑;FBB(第一條被遮斷的光束)和LBB(最後一條被遮斷的光束)測量外徑。

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輪廓定位、高度測量,如:噴漆、烤漆

使用模式:FBB(第一條被遮斷的光束)和LBB(最後一條被遮斷的光束)水平方向上左右輪廓定位;LBB(最後一條被遮斷的光束)用於高度上的定位。

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孔徑測量

使用模式:CBM(連續導通的光束數量)。

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糾偏,如:紡織設備、鋼卷開卷設備

使用模式:LBM(最後一條導通的光束)。

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最後,邦納測量光幕還有一項能補救設備改動造成的光幕尺寸偏大的技能——盲區設定,邦納測量光幕允許設定至多兩個盲區,用來屏蔽掉不必檢測或被設備機械結構遮擋的區域。

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