世界光學儀器向自動化及智能化方向發展
http://www.kadhoai.com.cn 2026-04-08 06:07:12 來源:中國儀器儀表網
從傳統光學儀器轉變到現代光學儀器,關鍵在於計算機化,而微電子技術是基礎。光譜儀器發展最快,發達國家上世紀80年代已實現微機化,現已向聯用技術、全自動化(如內裝機械手等機器人係統,實現無人操作)、實驗室信息管理係統自動化及智能化方向發展。
光學計量儀器從大型精密儀器——三座標測量機到傳統的自準直儀和投影儀都已實現微機化、光電化:激光技術的結合和CCD等光電器件的引入,更為快速、準確、可靠的在線檢測和監控創造了條件。
未來10年,高新技術的發展和應用將進一步推動光學儀器實現光機電算一體化和智能化。現今的智能化儀器更確切地應稱為“微機化”儀器。而高程度的智能化是信息技術的最高層次,應包括理解、推理、判斷與分析等一係列功能,是數值、邏輯與知識的結合分析結果,智能化的標誌是知識的表達與應用。電子技術、計算機技術和光電器件的不斷發展和功能的完善,為儀器向更高檔次的智能發展創造了條件。
未來10年,光和電的滲透會進一步強化,更多的新技術、新(xin)器(qi)件(jian)將(jiang)推(tui)廣(guang)應(ying)用(yong),因(yin)而(er)在(zai)光(guang)機(ji)電(dian)算(suan)一(yi)體(ti)化(hua)的(de)基(ji)礎(chu)上(shang)融(rong)入(ru)不(bu)同(tong)原(yuan)理(li),派(pai)生(sheng)出(chu)新(xin)用(yong)途(tu)的(de)產(chan)品(pin),以(yi)滿(man)足(zu)各(ge)領(ling)域(yu)日(ri)益(yi)增(zeng)長(chang)的(de)需(xu)求(qiu)。具(ju)有(you)優(you)異(yi)性(xing)能(neng)的(de)光(guang)電(dian)器(qi)件(jian)和(he)功(gong)能(neng)材(cai)料(liao)的(de)開(kai)發(fa)和(he)應(ying)用(yong),將(jiang)加(jia)速(su)現(xian)代(dai)光(guang)學(xue)儀(yi)器(qi)的(de)發(fa)展(zhan)。如(ru)CCD器件、半導體激光器、光guang纖xian傳chuan感gan器qi等deng製zhi造zao技ji術shu趨qu於yu成cheng熟shu,實shi現xian應ying用yong已yi獲huo突tu破po,顯xian示shi了le廣guang泛fan的de應ying用yong前qian景jing。它ta必bi將jiang使shi光guang學xue儀yi器qi領ling域yu發fa生sheng重zhong要yao變bian革ge,推tui動dong產chan品pin向xiang小xiao型xing化hua、高分辨、光電化和自動化發展。
未來的光學計量儀器儀表是簡化設計,大量壓縮零部件,提高智能化和便於操作,發展在線計量測試儀器儀表。
利用物理學新效應和高新技術及其成就開發新型計量測試儀器儀表和新型高靈敏度、高穩定性、強抗幹擾能力的新型傳感器技術。如:利用高溫超導量子幹涉器(SGUID)開發計量測試儀器、物理學測試儀器、地學和地質學儀器、化學分析儀器、醫學儀器、無損材料檢驗儀器等。利用橢偏技術來檢測光纖、光(guang)學(xue)玻(bo)璃(li)等(deng),這(zhe)是(shi)大(da)家(jia)所(suo)共(gong)知(zhi)的(de),它(ta)與(yu)近(jin)場(chang)光(guang)學(xue)相(xiang)結(jie)合(he),不(bu)僅(jin)可(ke)以(yi)測(ce)量(liang)表(biao)麵(mian)精(jing)細(xi)結(jie)構(gou),同(tong)時(shi)根(gen)據(ju)近(jin)場(chang)光(guang)學(xue)反(fan)射(she)偏(pian)振(zhen)信(xin)息(xi)可(ke)以(yi)分(fen)辨(bian)出(chu)被(bei)測(ce)物(wu)體(ti)的(de)材(cai)料(liao),這(zhe)是(shi)目(mu)前(qian)實(shi)驗(yan)研(yan)究(jiu)的(de)新(xin)探(tan)索(suo)。將(jiang)可(ke)調(tiao)諧(xie)穩(wen)頻(pin)激(ji)光(guang)光(guang)譜(pu)儀(yi)的(de)技(ji)術(shu)用(yong)於(yu)高(gao)精(jing)密(mi)的(de)幾(ji)何(he)量(liang)與(yu)機(ji)械(xie)量(liang)和(he)多(duo)種(zhong)無(wu)形(xing)態(tai)的(de)量(liang)的(de)測(ce)量(liang)。開(kai)發(fa)新(xin)一(yi)代(dai)微(wei)型(xing)光(guang)纖(xian)傳(chuan)導(dao)激(ji)光(guang)幹(gan)涉(she)儀(yi),它(ta)的(de)測(ce)量(liang)範(fan)圍(wei)可(ke)以(yi)從(cong)納(na)米(mi)到(dao)幾(ji)米(mi)或(huo)更(geng)大(da)的(de)範(fan)圍(wei),分(fen)辨(bian)率(lv)可(ke)達(da)10nm,並且克服了HP激光幹涉儀的缺點,它具有HP激光幹涉儀的一切功能;另外,它還可用於稱重,研製新型電子天平、高精度的電子皮帶秤、高分辨率的壓力計等。發展納米測量技術,建立納米計量測試標準,這是當今在計量與測量技術研究中十分活躍的課題.