http://www.kadhoai.com.cn 2026-04-07 13:43:26 來源:美國邦納工程國際有限公司
原創: Aiwen Wang
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邦(bang)納(na)測(ce)量(liang)光(guang)幕(mu)之(zhi)所(suo)以(yi)能(neng)夠(gou)成(cheng)為(wei)一(yi)個(ge)多(duo)麵(mian)手(shou),得(de)益(yi)於(yu)邦(bang)納(na)的(de)設(she)計(ji)人(ren)員(yuan)賦(fu)予(yu)了(le)它(ta)如(ru)下(xia)八(ba)種(zhong)的(de)掃(sao)描(miao)分(fen)析(xi)模(mo)式(shi),使(shi)其(qi)能(neng)夠(gou)從(cong)容(rong)應(ying)對(dui)不(bu)同(tong)的(de)應(ying)用(yong)場(chang)景(jing)。
掃描模式:
TBB —— 全部被遮斷的光束數;
CBB —— 連續被遮斷的光束數;
TBM —— 全部導通的光束數量;
CBM —— 連續導通的光束數量;
FBB —— 第一條被遮斷的光束;
LBB —— 最後一條被遮斷的光束;
FBM —— 第一條導通的光束;
LBM —— 最後一條導通的光束;
ID —— 光幕起始位置到最後導通位置中的光束導通數量;
OD —— 光幕開始遮擋位置到最後遮擋位置的距離。
掃描分析模式及應用場景示例:
● 物體尺寸/體積測量
使用模式:TBB全部被遮斷的光束數。

● 鏤空物體的外徑測量,如輪胎
使用模式:CBM(連續導通的光束數量)測量內徑;FBB(第一條被遮斷的光束)和LBB(最後一條被遮斷的光束)測量外徑。

● 輪廓定位、高度測量,如:噴漆、烤漆
使用模式:FBB(第一條被遮斷的光束)和LBB(最後一條被遮斷的光束)水平方向上左右輪廓定位;LBB(最後一條被遮斷的光束)用於高度上的定位。

● 孔徑測量
使用模式:CBM(連續導通的光束數量)。

● 糾偏,如:紡織設備、鋼卷開卷設備
使用模式:LBM(最後一條導通的光束)。

最後,邦納測量光幕還有一項能補救設備改動造成的光幕尺寸偏大的技能——盲區設定,邦納測量光幕允許設定至多兩個盲區,用來屏蔽掉不必檢測或被設備機械結構遮擋的區域。