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基恩士發布形狀測量激光顯微係統　VK-X100/X200 係列

——集顯微鏡•SEM•粗糙度儀的功能於一身

http://www.kadhoai.com.cn 2026-04-07 12:09:31 來源：互聯網

　　3月27日，工業自動化領域，銷售傳感器、測量儀器、顯微係統以及邏輯控製係統的供應商，日本知名企業基恩士在北京召開了媒體見麵會。會上指出將加強在中國市場「形狀測量激光顯微係統VK-X100/X200 係列」的銷售。VK-X100/X200 係列1台機器便可以實現無與倫比的高分辨率大範圍形狀測量。

   「形狀測量激光顯微係統VK-X100/X200 係列」的特點如下；

　　高分辨率，大景深觀察

　　(1) 高分辨率， 最大放大24000 倍

　　(2) 完全聚焦的清晰圖像

　　(3) 符合溯源性要求

　　仿佛彩色 SEM

　　(1) 16 bit 激光彩色觀察

　　(2) 放置並且測量，您可以在幾秒鍾內進行分析

　　(3) 可拆卸測量頭單元允許各種尺寸的樣品測量。可拆卸測量頭單元可以與其他設備整合並支持遠程操作。

　　無損輪廓和粗糙度測量

　　(1) 非接觸式設計，可用於測量軟質的工件

　　(2) 方便定位測量區域

　　(3) 激光光束波長比表麵粗糙度測量直徑小

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