NI攜其最新產品亮相首屆電子設計創新會議

http://www.kadhoai.com.cn 2026-04-10 05:52:30 來源：美國國家儀器（NI）有限公司

2013年3月－美國國家儀器公司（National Instruments, 簡稱 NI）作為金牌讚助商參加於2013年3月12日至14日在北京國際會議中心舉辦的首屆電子設計創新會議（EDI CON）。為期三天的會議為中國的高頻/高速電子行業打造了一個全新的技術交流平台，NI也攜其射頻領域的最新產品亮相此次展會。

走進北京國際會議中心位於一樓的EDI CON展廳，迎麵就可以看到NI與其子公司AWR的聯合展位。NI向來訪客戶展示了其在射頻領域的最新產品和解決方案，例如NI基於矢量信號收發儀（VST）的信道仿真器與全新WLAN 802.11ac測試方案。通過比較，我們可以看到這款基於PXI平台的射頻儀器具備可以與傳統箱式儀器媲美的性能指標，同時又兼具靈活性。在NI展台還可以看到其最新發布的矢量網絡分析儀與頻譜監測儀等其它高性能射頻儀器。

NI不僅在硬件和軟件上不斷研發高端及和射頻相關的產品，此外NI還在行業中尋找相關的頂尖廠商進行合作，以豐富NI的射頻技術，使NI能有一個更加完整和可靠的射頻硬件平台，從而為NI的客戶在射頻和微波領域提供更好的解決方案。AWR就是NI收購的一家在高頻設計和建模上處於領先地位的EDA公司。此次AWR參加EDI CON，為客戶帶來了專門用於開發高頻無線設計的具有新的功能和增強功能的AWR Design Environment™最新版本。這個10.04最新版本包括Microwave Office®/Analog Office®電路設計軟件和Visual System Simulator™ (VSS)係統設計軟件，以及AXIEM® 3D平麵電磁（EM）軟件和 Analyst™有限元法（FEM）EM軟件的更新和許多創新技術。

在展會同期，NI還為廣大工程師與科研人員帶來了精彩紛呈的技術會議。NI資深研發工程師饒勇先生為大家帶來了一種新型基於LabVIEW FPGA的8×8MIMO設計的技術討論；NI射頻與微波經理Nikhil Ayer先生則和大家探討了有關軟件無線電，實時頻譜分析以及射頻測試中的同步等熱點問題；NI中國技術市場工程師姚遠先生，為大家介紹了軟件定義的模塊化的解決方案在射頻與微波測試領域的優勢及相關案例。

目前在中國的無線射頻和微波領域誕生了諸多無線標準，像TD-LTE標準、物聯網的標準及三網合一的標準等等。這些標準的產生都給測試帶來了很大的挑戰。NI基(ji)於(yu)軟(ruan)件(jian)的(de)測(ce)試(shi)係(xi)統(tong)可(ke)以(yi)很(hen)快(kuai)得(de)根(gen)據(ju)客(ke)戶(hu)的(de)需(xu)求(qiu)去(qu)改(gai)變(bian)測(ce)試(shi)的(de)模(mo)塊(kuai)從(cong)而(er)滿(man)足(zu)測(ce)試(shi)的(de)需(xu)求(qiu)。從(cong)中(zhong)國(guo)新(xin)標(biao)準(zhun)的(de)製(zhi)定(ding)，到(dao)自(zi)主(zhu)品(pin)牌(pai)手(shou)機(ji)的(de)生(sheng)產(chan)及(ji)手(shou)機(ji)的(de)終(zhong)端(duan)測(ce)試(shi)，相(xiang)信(xin)NI的平台一定能為客戶提供更好的解決方案。

更多有關NI射頻和無線測試方麵的內容，請訪問下列網頁：http://www.ni.com/rf/zhs/

關於NI

自1976年以來，美國國家儀器，簡稱NI (www.ni.com)一直致力於為工程師和科學家提供各種工具來提高效率、加速創新和探索。 NI的圖形化係統設計方法為工程界提供了集成式的軟硬件平台, 有助於加速測量和控製係統的開發。長期以來，NI一直期望並努力通過自身的技術來改善社會的發展，確保客戶、員工、供應商及股東獲得成功。

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