2008年7月21日到25日
，牛津儀器納米分析儀器部在廬山舉行了2008年度的用戶研討會。此次會議邀請到來自全國各地超過100位用戶
，專家
，學者以及牛津的新老朋友。  

   牛津儀器亞太區銷售經理Jonathan Bryon 和區域售後主管David Craig分fen別bie致zhi了le開kai幕mu詞ci，牛niu津jin儀yi器qi中zhong國guo區qu首shou席xi代dai表biao張zhang鵬peng對dui牛niu津jin儀yi器qi集ji團tuan作zuo了le全quan貌mao介jie紹shao，牛niu津jin儀yi器qi納na米mi分fen析xi儀yi器qi部bu的de銷xiao售shou經jing理li馮feng駿jun和he售shou後hou服fu務wu經jing理li陸lu先xian慧hui為wei大da家jia介jie紹shao了le2008年分析儀器部各方麵的進展和狀況。  

   會議還邀請到了很多專家學者一起分享經驗， 楊銀祥教授：矽漂移探測器發展曆史及其最新進展，趙文霞老師：能譜儀在材料科學中的應用實例，牛津儀器焦彙勝：薄膜材料成份和厚度的能譜分析，中科院矽酸鹽所李香庭：EDS定量結果解讀及誤差分析，標樂公司李明：EBSD樣品製備技術，青島科技大學張乾：納米銅粒子在乙炔聚合過程中的形變
，核工業理化分析寇益強：超高強鋁合金模鍛件開裂原因分析，株洲鑽石刀具公司高躍紅：INCA軟件在梯度硬質合金塗層切削刀具中的應用，崇義章源鎢製品楊邁莉：梯度硬質合金刀片的掃描電鏡觀察等。 

   廬山用戶研討會圓滿的結束，各位同仁們
，思想滾滾地渡過了愉快的一周，誠邀各位用戶明年繼續參加我們的會議！再續友誼！