NIWeek－NI (美國國家儀器公司，National Instruments，簡稱NI) 作為致力於為工程師和科學家提供解決方案來應對全球最嚴峻的工程挑戰的供應商
，今日宣布推出NI半導體測試係統(STS)係列。這些基於PXI的自動化測試係統通過在半導體生產測試環境中引入NI和工業標準的PXI模塊降低了射頻和混合信號設備的測試成本。與傳統半導體自動化測試設備(ATE)相比，STSqianyanyonghuzhengzaihuoyiyujiangdideshengchanchengbenhetigaodetuntuliang，bingqiekeshiyongxiangtongdeyingjianheruanjiangongjuzhongjinxingtezhengxingceshiheshengchan。zhekeyijianshaoshujuguanliandeshijian，jinersuoduanchanpinshangshishijian。

    “隨著集成電路的複雜性呈指數增長，為從設計驗證到生產線末端測試等應用提供最佳測試覆蓋率的高成本效益ATE變得越來越重要，” 英飛淩科技股份公司的汽車車身動力產品資深設計和應用工程師Hans-Peter Kreuter博士表示
，“對於混合信號測試
，基於PXI的STS相比傳統ATE
，以非常低的成本提供了最佳測試覆蓋率。”

    STS的開放模塊化架構使得工程師能夠使用最前沿的PXI儀器，這是采用傳統具有封閉結構的ATE無法實現的。這對於RF和混合信號測試尤其重要，因為最新半導體技術要求的測試覆蓋率往往超越了傳統ATE所能提供的。STS結合了TestStand測試管理軟件和LabVIEW係統設計軟件，具有一組針對半導體生產環境的豐富功能，包括可定製的操作界麵
、分選機/探針集成、具有引腳-通道映射且以設備為中心的編程、標準測試數據格式報告以及集成式多點支持。有了這些功能，工程師可以快速開發、調試和部署測試程序，縮短總體上市時間。此外，STS還具有全封閉的“零占用空間”測試頭、標準的連接和對接機製，可與半導體生產測試台相集成。

    “隨著測試係統不斷更新換代
，舊測試係統無法滿足新的測試需求，使用傳統的ATE係統需要不斷更換試驗車間的設備，從而導致高昂的成本
，但STS的開放式PXI架構可以幫助我們保持原有的投資並在其基礎上進行擴展，而不是淘汰掉那些設備，”Integrated Device Technology (IDT)測試總監Glen Peer表示
，“它提供了我們需要的靈活性，使我們能夠根據不斷提高的性能需求重新配置和擴展我們的測試平台。”

    STS係列包括三個不同的型號T1
、T2和T4
，分別可容納一個、兩個和四個PXI機箱。這些體積各異但卻具有相同軟件
、儀器和互聯機製的係統使得工程師能夠針對各種引腳數和站點數需求進行優化。此外
，STS的de可ke擴kuo展zhan性xing使shi其qi可ke部bu署shu到dao從cong特te征zheng性xing測ce試shi到dao生sheng產chan測ce試shi等deng各ge個ge過guo程cheng，不bu僅jin優you化hua了le成cheng本ben
，而er且qie大da大da簡jian化hua了le數shu據ju的de相xiang關guan性xing
，進jin而er縮suo短duan了le產chan品pin上shang市shi時shi間jian。

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，NI提供了由NI專業工程師和世界各地的NI聯盟夥伴支持的培訓、產品和服務。對於產品和配置幫助
，請聯係您所在地的NI銷售工程師。如需了解更多關於NI半導體測試係統，請訪問www.ni.com/sts。

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，美國國家儀器就為工程師和科學家提供各種工具來加速生產、創新和探索。NI的de圖tu形xing化hua係xi統tong設she計ji方fang法fa為wei工gong程cheng界jie提ti供gong了le一yi個ge將jiang軟ruan硬ying件jian結jie合he在zai一yi起qi的de平ping台tai
，有you助zhu於yu加jia速su測ce量liang和he控kong製zhi係xi統tong的de開kai發fa過guo程cheng。公gong司si的de長chang期qi願yuan景jing和he通tong過guo技ji術shu提ti高gao社she會hui發fa展zhan水shui平ping的de理li念nian為wei客ke戶hu、員工、供應商和股東的成功提供支持。

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