2015年6月－美國國家儀器公司（National Instruments, 簡稱 NI） “第十五屆圖形化係統設計征文競賽”已於近日正式啟動。此次大賽針對所有使用NI產品的用戶
，旨在進一步推動圖形化係統設計在國內的發展和應用，使更多的工程師們能更快更好地開發符合特定要求的測控應用。

    從2000年開始，該活動已經成功舉辦了十四屆，得到廣大NIxinlaoyonghudereqingzhichi，meiniandoushoujidaoshuliangzhongduodeyouxiuchuangxinyingyongfangan，shidedasaihuojiangyingyongfanganwenjibeishouqinglai。huodongyidanzhengshibaomingcanyu，jiyoujiangli。ruweijuesaizhegengjiangyoujihuihuodefenghoudejiangjin、超值產品升級與培訓獎勵，以及免費參加 NIDays技術盛會的機會。決賽獲獎文章還將發表在權威期刊《儀器儀表學報》增刊上 。

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有關比賽詳情
，請訪問下列網址：http://china.ni.com/papercontest2015。

關於NI

從1976年開始，美國國家儀器(www.ni.com)就為工程師和科學家提供各種工具來加速生產、創新和探索。NIdetuxinghuaxitongshejifangfaweigongchengjietigongleyigejiangruanyingjianjiehezaiyiqidepingtai
，youzhuyujiasucelianghekongzhixitongdekaifaguocheng。gongsidechangqiyuanjinghetongguojishutigaoshehuifazhanshuipingdelinianweikehu、員工
、供應商和股東的成功提供支持。

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