http://www.kadhoai.com.cn 2026-04-08 01:58:43 來源:美國國家儀器(NI)有限公司
2016年6月16日–NI(美國國家儀器公司,National Instruments,簡稱NI)作為致力於為工程師和科學家提供解決方案來幫助他們應對全球最嚴峻工程挑戰的供應商,近日在上海舉辦了第十三屆“PXI 技術和應用論壇” (PXI Technology & Application Conference,即 PXI TAC)。本次PXI TAC的主題為“更智能的係統-更智能的係統測試”,吸引了600餘名行業領軍人物、技術專家和相關機構代表,共同分享最新、最全、最前沿的測試領域技術幹貨,探討PXI技術的發展趨勢和應用案例。

在今年的PXI TAC上,NI發布了7位半數字萬用表(DMM)、802.11ax無線測試解決方案、用於毫米波(mmWave)的軟件無線電(SDR)和模塊化源測量單元(SMU)等多款業界首創的PXI新產品,再度引領PXI技術發展的新潮流,致力於幫助用戶打造更加智能的係統測試解決方案。同時,15家國內外知名PXI供應商和係統集成商亮相本次PXI TAC,展示了他們基於PXI技術開發的各項產品和技術應用。

自NI推出PXI技術以來,PXI平台現已成為了自動化測試和控製的主流平台。和傳統儀器相比,PXI平台具有較高的測量能力,低延遲和高帶寬,軟件靈活定義,集成定時和同步,高處理性能,尺寸、重量、功耗小,平台儀器齊全等優點;並且PXI平台可以作為整個係統的中心,連接已有的其他儀器,如LXI,VXI,USB,GPIB等,在最大可能減少係統瓶頸的情況下,保持已有設備投資。因此,越來越多的客戶使用PXI平台的儀器開展自動化測試。據Frost & Sullivan預測,到2021年,PXI平台作為整個儀器行業的主力增長力量,將會一直以超過15%的增長率持續增長。

圖:NI全球市場高級副總裁Ajit Gokhale
NI始終致力於PXI技(ji)術(shu)的(de)不(bu)斷(duan)進(jin)步(bu),並(bing)在(zai)這(zhe)一(yi)領(ling)域(yu)不(bu)斷(duan)投(tou)入(ru)和(he)持(chi)續(xu)創(chuang)新(xin)。隨(sui)著(zhe)以(yi)物(wu)聯(lian)網(wang)為(wei)代(dai)表(biao)的(de)智(zhi)能(neng)係(xi)統(tong)的(de)興(xing)起(qi),智(zhi)能(neng)設(she)備(bei)呈(cheng)爆(bao)炸(zha)式(shi)增(zeng)長(chang)態(tai)勢(shi),對(dui)測(ce)試(shi)和(he)測(ce)量(liang)任(ren)務(wu)提(ti)出(chu)更(geng)加(jia)嚴(yan)峻(jun)的(de)挑(tiao)戰(zhan)。 “在物聯網的大背景下,智能設不斷湧現,形成了更智能的係統,這就必然需要更加智能的測試係統。憑借開放靈活的軟件、模塊化的硬件和完整的生態係統,PXI平台獲得了自動化測控領域工程師的一致認可,” NI全球市場高級副總裁Ajit Gokhale表示,“作為PXI平台的發明者和市場領導者, NI多年來堅持將PXI TAC打造成開放、自由的技術交流平台。我們期待與各界同仁攜手,促成PXI平台的持續創新,應對測試測量任務越來越嚴峻的挑戰。”
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