http://www.kadhoai.com.cn 2026-04-08 03:34:03 來源:定焦財經
數字圖像相關(DIC)技術通過比較兩幅或多幅圖像之間的像素位移來分析物體的變形情況,通過三維重建以及數字圖像相關算法計算得到該過程中的3D位移場、3D應變場、3D變形場數據。
DIC測試技術是通過捕捉試樣表麵的特征點,對特征點的位置進行計算從而計算試樣表麵的變形信息。DICceshijishukeyongyuyanjiufenxishiyangzaishouliguochengzhongdequanchangyingbiandeyanhua,fenxishiyangzaijiazaiguochengzhongbutongjuyudeyingbianfenbuqingkuangyijiqiangruojiegoudebuzhiduiyushiyangshoulibianxingyijipohuaideyingxiang。
新拓三維XTDIC三維全場應變測量係統,基於數字圖像相關技術(DIC)和標記點跟蹤測量技術,為產品的研發測試提供可靠精準的測量數據,可用於材料力學性能測試、零部件疲勞、強度、振動分析等力學行為表征。
1、光學器件DIC全場變形測試
在(zai)光(guang)學(xue)器(qi)件(jian)的(de)生(sheng)產(chan)過(guo)程(cheng)中(zhong),除(chu)了(le)對(dui)光(guang)學(xue)元(yuan)器(qi)件(jian)進(jin)行(xing)反(fan)複(fu)模(mo)擬(ni)和(he)加(jia)工(gong)以(yi)減(jian)少(shao)成(cheng)像(xiang)或(huo)者(zhe)光(guang)路(lu)誤(wu)差(cha)之(zhi)外(wai),裝(zhuang)配(pei)工(gong)藝(yi)也(ye)是(shi)直(zhi)接(jie)影(ying)響(xiang)係(xi)統(tong)性(xing)能(neng)和(he)精(jing)度(du)指(zhi)標(biao)的(de)關(guan)鍵(jian)環(huan)節(jie)。
在(zai)光(guang)學(xue)器(qi)件(jian)機(ji)械(xie)安(an)裝(zhuang)過(guo)程(cheng)中(zhong),器(qi)件(jian)的(de)振(zhen)動(dong)和(he)變(bian)形(xing)產(chan)生(sheng)的(de)誤(wu)差(cha)會(hui)直(zhi)接(jie)影(ying)響(xiang)產(chan)品(pin)精(jing)度(du)指(zhi)標(biao)和(he)性(xing)能(neng),因(yin)此(ci)測(ce)量(liang)光(guang)學(xue)器(qi)件(jian)在(zai)裝(zhuang)配(pei)過(guo)程(cheng)的(de)位(wei)移(yi)和(he)振(zhen)動(dong)是(shi)非(fei)常(chang)關(guan)鍵(jian)的(de)。XTDIC三san維wei全quan場chang應ying變bian測ce量liang係xi統tong在zai全quan場chang非fei接jie觸chu位wei移yi振zhen動dong檢jian測ce中zhong優you勢shi凸tu顯xian,可ke以yi全quan程cheng監jian控kong在zai實shi際ji生sheng產chan和he安an裝zhuang過guo程cheng中zhong誤wu差cha產chan生sheng的de位wei置zhi和he過guo程cheng,從cong而er可ke以yi對dui裝zhuang調tiao過guo程cheng進jin行xing精jing度du指zhi標biao優you化hua。
DIC測試流程
數字圖像相關法(DIC)通過跟蹤物體表麵散斑圖案的變形過程,計算散斑域的灰度值變化,從而得到被測物體表麵的變形和應變數據。
作(zuo)為(wei)光(guang)學(xue)器(qi)件(jian)加(jia)工(gong)產(chan)品(pin),被(bei)測(ce)物(wu)表(biao)麵(mian)噴(pen)塗(tu)散(san)斑(ban)漆(qi)不(bu)太(tai)現(xian)實(shi),新(xin)拓(tuo)三(san)維(wei)技(ji)術(shu)工(gong)程(cheng)師(shi)采(cai)用(yong)貼(tie)點(dian)的(de)方(fang)式(shi),針(zhen)對(dui)可(ke)能(neng)出(chu)現(xian)位(wei)移(yi)或(huo)者(zhe)振(zhen)動(dong)的(de)位(wei)置(zhi)進(jin)行(xing)動(dong)態(tai)監(jian)測(ce)。

DIC位移測量設備架設
DIC技術測試實驗過程分為兩個部分,測量板材在光學器件安裝的過程中是否發生相對的位移或者振動;測量反射鏡等元器件在實際安裝過程中產生的角度和位置變化。
DIC測試數據分析
DIC測試技術可以快速分析光學器件零部件在裝配過程中的偏移和振動,對零部件力學特性進行實時跟蹤,以實現定量測試驗證和調整裝配的工藝和方案。


如上圖所示, XTDIC三維全場應變測量係統首可對光學器件裝配過程中關鍵邊緣點的位移和距離進行監測和測量,測出實際產生的安裝誤差約為0.01微米。



如上圖所示, XTDIC三維全場應變測量係統主要監測光學器件安裝反光鏡過程中,鏡麵平麵和基底平麵產生的角度變化,測量的誤差值約為0.1°。
2、齒輪齧合變形測量
齒輪傳動具有傳動精度高,傳動比固定,工作可靠等優點,同時齒輪齧合故障問題也備受工程人員關注。
采用XTDICsanweiquanchangyingbianceliangxitongduichilundongtainieheguochengjinxingceshi,lejiechilunnieheguochengzhongdedongtaibianxing,shujuyouzhuyuyouhuachilunbujian,youxiaoditigaochilunxingnengheshouming。

齒輪齧合分析難題
通過分析齒輪動態齧合變形,是了解齒輪振動情況的有效途徑,但齒輪動態變形計算,傳統的分析手段存在不少的難題:
1、理論研究和仿真驗證,缺乏真實加載數據驗證
2、無法對齒輪表麵進行全場測量,難以記錄試樣關鍵位置的變形
3、缺少齒輪動態齧合力和變形情況的有效測試方法。
DIC三維變形測量方案
數字圖像相關技術(DIC)可測量3D全場表麵位移、變形、應變和振動頻率,且無需與試樣接觸。
新拓三維XTDIC三維光學應變測量係統,測試齒輪齧合轉動過程中,齒輪齧合部位在負載下的變形和應變;在施加製動力之後,測量齒輪的變形和振動頻率。

從DIC分析數據可以看出,在齒輪運轉過程中,齒輪支撐負重部位變形明顯,測試數據可以導出以驗證FEA模型,優化齒輪結構性能,加速產品的最終結構設計。
在被測區域中,XTDIC三維全場應變測量係統測試結果與應變片結果基本吻合,並能提供全場應變和位移數據,並準確測得關鍵部位的應變區域。