NI（美國國家儀器，National Instruments, 簡稱NI） 作為致力於為工程師和科學家提供基於平台的係統解決方案來應對全球最嚴峻工程挑戰的供應商
，今日宣布推出PXIe-4163高密度源測量單元（SMU），該測量單元提供了比以往NI PXI SMU高達6倍的直流通道密度，適用於測試RF、MEMS以及混合信號和其他模擬半導體元件。

NI全球銷售和市場執行副總裁Eric Starkloff表示：“5G、wulianwanghezidongjiashiqichedenggemingxingdejishufazhangeibandaotiqiyedailaichixudeyali。wulunshishiyanshihuanjinghaishishengchanchejian，douxuyaocaiyonggenggaoxiaodebandaoticeshifangfa。bandaoticeshishiNI的戰略重點。我們正在擴展我們的軟件平台和PXI功能，以幫助芯片製造商應對他們麵臨的最大挑戰，這一點通過NI最新的PXI SMU可以完全體現出來。”

由於其高吞吐量、高性價比和占地麵積小

，NI的半導體測試係統（STS）正在快速應用到芯片生產中。全新的PXIe-4163 SMUzejinyibuzengqianglezhexiegongneng

，tanengtigonggenggaodezhiliutongdaomidu

，shiduozhandianyingyongjuyougenggaodebingxingxing
，yijizaishengchanzhongtigongshiyanshijibiedeceliangzhiliang。liyongzheyizuhe，gongchengshizaishiyanshiheshengchanchejianzhongkeyishiyongxiangtongdeyiqijinxingyanzheng，congerjianshaoleceliangshujuguanliandetiaozhan，jinersuoduanshangshishijian。

工程師可以在STS配置或單獨的PXI係統中使用全新的PXIe-4163 SMU。 主要產品功能包括：

.在單個PXI Express插槽中提供多達24路通道

.每通道電壓範圍+/- 24 V

.每通道高達100 mA源極/漏極電流

.100 pA電流靈敏度

.高達100 kS/s采樣率和更新速率

.采用SourceAdapt技術，可最小化過衝和振動

.交互式配置和調試軟件

.在單個PXI機箱中提供高達408個高精度SMU通道（4U機架空間）

.受到STS全麵支持，包括係統級布線、校準和引腳映射支持

STS於2014年推出，為半導體生產提供了顛覆性的測試方法。它基於NI PXI平台，可以幫助工程師構建更智能的測試係統。PXI平台包括1 GHz帶寬矢量信號收發儀 、fA級SMU 、TestStand業界領先的商用現成測試管理軟件以及頻率從DC涵蓋到mmWave的600多種PXI產品。

如需了解更多關於STS的功能，請訪問www.ni.com/sts/。

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