西門子數字化工業軟件日前推出 Tessent™ In-System Test 軟件，作為一款突破性的可測試性設計 (DFT) 解決方案

，旨在增強下一代集成電路 (IC) 的係統內測試能力。

Tessent In-System Test 專為解決老化和環境因素等導致的靜默數據損壞或錯誤 (SDC/SDE) 挑戰而設計，是可與 Tessent™ Streaming Scan Network 軟件配合使用的係統內測試控製器。這種兼容性使客戶能夠在產品的全生命周期內應用嵌入式確定性測試向量
，有助於確保其 IC 及其應用更加可靠、安全且具備完整功能。

西門子數字化工業軟件數字設計創作平台高級副總裁兼總經理 Ankur Gupta 表示：“Tessent In-System Test 是幫助客戶實現矽片生命周期管理目標的重要一步。老化和環境因素對現今的設計影響越來越大，Tessent In-System Test 提供了解決當今挑戰的智能解決方案，能夠幫助客戶提升性能、安全性和生產力。”

基於經過市場驗證的 Tessent™ MissionMode 技術和 Tessent Streaming Scan Network (SSN) 軟件，西門子 Tessent In-System Test 可無縫集成由 Tessent™ TestKompress™ 軟件生成的確定性測試向量。該軟件使客戶能夠在係統內應用中複用現有的基於 IJTAG 和 SSN 的向量，同時改善整體芯片規劃並縮短測試時間。

Tessent In-System Test 軟件還允許客戶通過行業標準 APB 或 AXI 總線接口
，將使用 Tessent TestKompress 和 Tessent SSN shengchengdeqianrushiquedingxingceshixiangliangzhijieyingyongyuxitongneiceshikongzhiqi。xitongneiyingyongdequedingxingceshixiangliangzaiyudingyideceshichuangkouneitigonggaojibiedeceshizhiliang
，bingqienenggousuizheshebeizaiqishengmingzhouqineidechengshuhuolaohuaergenggaiceshineirong。liyongqianrushiquedingxingxiangliangdexitongneiceshihaizhichifuyongxianyoudeceshijichusheshi。zhexiegongnengduiyuqiche


、航空航天和醫療設備等關乎安全的應用領域尤為重要。

亞馬遜雲科技（Amazon Web Services, AWS）高級 DFT 經理 Dan Trock 表示：“西門子的 Tessent In-System Test jishubangzhuwomenjiangyizaizhizaoceshizhongshiyongdedaliangceshijichusheshiheceshixiangliangfuyongyushujuzhongxinjiqun，shidewomendeshujuzhongxinnenggoujinxinggaozhiliangdexianchangceshi，zaiguipiandequanshengmingzhouqineichixujiankongguiqijian，quebao AWS 客戶享用高質量和高可靠性的基礎設施和服務。”

西門子 Tessent In-System Test 現已麵市。欲了解更多信息
，請訪問：

https://eda.sw.siemens.com/en-US/ic/tessent/test/in-system-test