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外形尺寸測量多麵手——邦納測量光幕

http://www.kadhoai.com.cn 2026-04-07 14:01:45 來源:美國邦納工程國際有限公司

原創: Aiwen Wang

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掃描模式:

TBB —— 全部被遮斷的光束數;

CBB —— 連續被遮斷的光束數;

TBM —— 全部導通的光束數量;

CBM —— 連續導通的光束數量;

FBB —— 第一條被遮斷的光束;

LBB —— 最後一條被遮斷的光束;

FBM —— 第一條導通的光束;

LBM —— 最後一條導通的光束;

ID —— 光幕起始位置到最後導通位置中的光束導通數量;

OD —— 光幕開始遮擋位置到最後遮擋位置的距離。

掃描分析模式及應用場景示例:

物體尺寸/體積測量

使用模式:TBB全部被遮斷的光束數。

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鏤空物體的外徑測量,如輪胎

使用模式:CBM(連續導通的光束數量)測量內徑;FBB(第一條被遮斷的光束)和LBB(最後一條被遮斷的光束)測量外徑。

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輪廓定位、高度測量,如:噴漆、烤漆

使用模式:FBB(第一條被遮斷的光束)和LBB(最後一條被遮斷的光束)水平方向上左右輪廓定位;LBB(最後一條被遮斷的光束)用於高度上的定位。

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孔徑測量

使用模式:CBM(連續導通的光束數量)。

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糾偏,如:紡織設備、鋼卷開卷設備

使用模式:LBM(最後一條導通的光束)。

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最後,邦納測量光幕還有一項能補救設備改動造成的光幕尺寸偏大的技能——盲區設定,邦納測量光幕允許設定至多兩個盲區,用來屏蔽掉不必檢測或被設備機械結構遮擋的區域。

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