http://www.kadhoai.com.cn 2026-05-02 14:23:22 來源:美國國家儀器(NI)有限公司
2011年4月——NI近日發布了《2011自動化測試技術展望》 ,就影響測試測量的技術與方法發表了研究結果。該報告所闡述的發展趨勢覆蓋了消費電子、汽車、半導體、航空航天、醫療設備和通信等眾多產業,幫助工程師和企業管理人員利用最新策略和最佳實踐案例,優化測試組織架構。
《2011自動化測試技術展望》以學術和工業研究、網上論壇、問卷調查、商業谘詢、客(ke)戶(hu)反(fan)饋(kui)等(deng)多(duo)種(zhong)形(xing)式(shi)廣(guang)泛(fan)進(jin)行(xing)調(tiao)查(zha),提(ti)出(chu)了(le)下(xia)一(yi)代(dai)測(ce)試(shi)測(ce)量(liang)行(xing)業(ye)的(de)發(fa)展(zhan)趨(qu)勢(shi),以(yi)應(ying)對(dui)該(gai)行(xing)業(ye)所(suo)存(cun)在(zai)的(de)商(shang)業(ye)與(yu)技(ji)術(shu)挑(tiao)戰(zhan)。報(bao)告(gao)從(cong)四(si)個(ge)方(fang)麵(mian)進(jin)行(xing)了(le)闡(chan)述(shu):
組織機構優化:集成驗證與生產測試需要注意策略、流程、人力與技術上的改變。
軟件係統:一個高度集成的軟件框架提供了一個靈活的係統架構,用於不斷升級增加測量功能,並縮短開發時間和測試時間。
異質計算結構:未來的測試係統將會需要不同的處理節點,來滿足更加嚴格的分析與處理要求。
IP to the Pin:在設計與測試階段分享FPGA IP可顯著縮短設計驗證時間,並改善生產測試時間與測試覆蓋性能。
閱讀2011自動化測試技術展望,讀者可訪問 www.ni.com/ato。
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