今天小菲就給大家解說下，在阿林頓的得克薩斯大學，以微型熱物理學實驗室主任Ankur Jain博士為首的團隊研究與微尺度熱傳導有關的各種話題。該實驗室采用各種現代設備和儀器，其中就包括FLIR紅外熱像儀。
三維集成電路中的散熱
Ankur Jain博士負責微型熱物理實驗室，在實驗室裏他和他的學生進行關於微尺度熱傳導、能量轉換係統、半導體熱管理、生物傳熱等相關話題的研究。三維集成電路（IC）zhongderehaosanshiyidajishutiaozhan，jinguanzaiguoqudeshijinianhuoershinianzhongjinxingledaliangdeyanjiu，danzheyijishudeguangfanyingyongrengranshoudaozuai。yinci，weixingrewulixueshiyanshideyanjiurenyuankaizhanshiyanyiceliangsanweijichengdianludeguanjianretexing，kaifafenximoxingyilejiesanweijichengdianluzhongderechuandao。
測量溫度場
薄bo膜mo材cai料liao自zi誕dan生sheng以yi來lai就jiu一yi直zhi是shi微wei電dian子zi技ji術shu的de一yi個ge重zhong要yao特te征zheng，為wei芯xin片pian提ti供gong多duo種zhong功gong能neng。為wei了le準zhun確que地di了le解jie薄bo膜mo的de熱re性xing能neng，我wo們men需xu要yao將jiang熱re性xing能neng與yu沉chen積ji過guo程cheng中zhong不bu斷duan變bian化hua的de微wei觀guan結jie構gou和he形xing貌mao聯lian係xi起qi來lai。這zhe樣yang，就jiu可ke以yi研yan究jiu諸zhu如ru導dao電dian性xing、體積模量、厚度和界麵熱阻等屬性。
Ankur Jain博士稱：“我們對微型器件上溫度場隨時間的變化尤其感興趣，通過測量基質的熱屬性，我們盡力了解微尺度熱傳導的基本性質。”在電子元件中，熱通常是主設備運行的不良副作用。因此，充分了解薄膜的瞬態熱現象十分重要。
Ankur Jain表示：“通過測量基質的熱屬性，我們盡力了解微尺度熱傳導的基本性質。”
“tongguolejiereruhezaiweixitongzhongliudong，womennenggouyouxiaodijiangguorewentizuixiaohua。zheyouzhuyuwomenshejichugengyouxiudeweixitong，bingzaicailiaoxuanzefangmianzuochugengmingzhidejuece。liru，womenyijinxingyixiangyanjiu，zhizaibijiaogezhongleixingbomoderechuandaoshuxing。”
紅外熱像儀的應用
為了測量微電子設備的溫度，Ankur Jain博bo士shi的de團tuan隊dui使shi用yong過guo各ge種zhong技ji術shu，包bao括kuo熱re電dian偶ou。這zhe項xiang技ji術shu存cun在zai的de主zhu要yao問wen題ti是shi熱re電dian偶ou僅jin能neng測ce量liang單dan點dian溫wen度du值zhi。為wei了le獲huo得de溫wen度du場chang的de更geng全quan麵mian直zhi觀guan的de圖tu像xiang，Jain博士決定使用FLIR紅外熱像儀。FLIR A6703sc紅外熱像儀專為電子元件檢測、醫療熱成像、生產監控、非fei破po壞huai性xing測ce試shi等deng應ying用yong而er設she計ji，完wan美mei適shi用yong於yu高gao速su熱re事shi件jian和he快kuai速su移yi動dong目mu標biao。短duan曝pu光guang時shi間jian使shi用yong戶hu能neng夠gou定ding格ge運yun動dong，獲huo得de精jing確que的de溫wen度du測ce量liang值zhi。熱re像xiang儀yi的de圖tu像xiang輸shu出chu可ke以yi通tong過guo調tiao節jie窗chuang口kou，將jiang幀zhen頻pin提ti高gao至zhi480幀/秒，並精確描述高速熱事件的特征，從而確保在測試過程中不會遺漏關鍵數據。
Ankur Jain表示：“我們感興趣的設備中的熱現象轉瞬即逝，我們需要整個溫度場的信息，而不是單點測量值，FLIR A6703sc在實驗期間大有助益，為我們呈現受測設備非常精細的細節。”
FLIR ResearchIR助力科研研發
此外，Ankur Jain博士的團隊一直將FLIR ResearchIR分析軟件用於科研研發應用領域。ResearchIR是一款強大且簡單易用的熱分析軟件，可實現熱像儀係統的命令和控製、高速數據記錄、實時或回放分析以及報告等。Ankur Jain道：“經證實，FLIR的ResearchIR軟件非常實用，尤其是，它能夠保存我們的熱記錄然後在數台電腦之間共享以供進一步分析”。
“ResearchIR極大地增進了我們團隊內以及我們團隊與其他團隊的協作，非常感謝菲力爾產品的支持！”
